HC32L126KATB
小华半导体· 系列 HC32L126生命周期: 未标注
Cortex-M0+ · 48 MHz · 128 KB · 16 KB · 1.8 ~ 5.5 V · LQFP64
HC32L126KATB-LQ64HC32L126KATB-LQFP64
关键参数
内核
Cortex-M0+
最高主频
48 MHz
程序 Flash
128 KB
SRAM
16 KB
工作电压
1.8 ~ 5.5 V
工作温度
-40 ~ 105°C
封装
LQFP64
GPIO 数
56
UART 数
2
SPI 数
2
I²C 数
3
ADC 位数
12
ADC 通道数
16
完整参数
| 内核与性能 | |
| 内核 | Cortex-M0+ |
| 最高主频 | 48 MHz |
| 存储 | |
| 程序 Flash | 128 KB |
| SRAM | 16 KB |
| 电源与环境 | |
| 工作电压 | 1.8 ~ 5.5 V |
| 工作温度 | -40 ~ 105°C |
| 运行功耗 | 51 µA/MHz mode=Run (工作模式): CPU running from Flash, peripherals off, vdd=3V, freq=48MHz, temp=not stated (feature summary), stat=typ (feature-list headline) |
| 最低功耗模式电流 | 0.65 µA mode=DeepSleep: all clocks off, POR active, IO state held, IO interrupt active, registers/RAM/CPU data retained; RTC off, vdd=3V, temp=25°C (Table 5-9 typ column, NO CLK row = 0.65 µA), stat=typ |
| 封装与 IO | |
| 封装 | LQFP64 |
| 引脚数 | 64 |
| GPIO 数 | 56 |
| 通信接口 | |
| UART 数 | 2 |
| SPI 数 | 2 |
| I²C 数 | 3 |
| 模拟 | |
| ADC 位数 | 12 |
| ADC 通道数 | 16 |
| ADC 采样率 | 2 MSPS |
| 比较器 | 2 |
| 温度传感器 | 有 |
| 定时与控制 | |
| RTC | 有 |
| DMA 通道 | 2 |
| 其他功能 | |
| 段码 LCD | 4x40/6x38/8x36 |
| 加密/安全 | AES, TRNG |
| 可靠性与认证 | |
| ESD (HBM) | 6 kV temp=TA=25°C, standard=ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, stat=max (±6 kV) |
| Flash 擦写寿命 | 20,000 cycles temp=TA=-40~105°C, retention=20 years at TA=85°C, stat=min |
| Flash 数据保持 | 20 years temp=TA=85°C, cycles=20000 program/erase cycles (min) |
以上数值由程序从原厂文档的对应位置读取并核对；如有出入请以原厂最新数据手册为准。
同系列型号 (1)
| PN | 最高主频 | 程序 Flash | SRAM | 工作温度 | 封装 | GPIO 数 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| HC32L126JATB | 48 MHz | 128 KB | 16 KB | -40 ~ 105°C | LQFP48 | 40 |